Aurora太阳能推出首款内联双面太阳能电池测量系统

  • 2017年01月24日
  • 作者: Mark Osborne

    Mark Osborne

    高级新闻编辑,Solar Media Limited 旗下 PV-Tech

    马克•奥斯本在半导体和光伏制造业拥有近二十年的从业经验。作为业内第一批专业网站的负责人之一,马克专注于相关领域的制造业。此外,自2005年以来,马克以半导体编辑的身份主持PV-Tech博客栏目。在其职业生涯中,马克曾多次主持和出席多个业内技术会议及产业相关活动。目前马克担任PV-Tech网站和Photovoltaics International技术刊物的高级新闻编辑一职,负责撰写全球光伏产业的主要发展动态,并继续以其独特的视角及分析力撰写PV-Tech博客栏目(编辑博客)。

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Decima Gemini产品含有一对特制Decima CD测量头,可对硅片背表面场和发射机的片电阻进行实时准确测量。图片来源:AST

Decima Gemini产品含有一对特制Decima CD测量头,可对硅片背表面场和发射机的片电阻进行实时准确测量。图片来源:AST

Aurora太阳能技术公司(AST)日前推出Decima内联测量系统的升级版本,可在生产过程中对双面太阳能电池进行质量控制。Decima Gemini产品含有一对特制Decima CD测量头,可对硅片背表面场和发射机的片电阻进行实时准确测量。

针对问题

双面太阳能电池拥有开放式活跃背表面,从而能够收集从地表、屋顶等处而来的反射光线,相较于传统太阳能电池能够多产生25%的电力。然而,双面光伏产品制造商直至目前,仍依赖于人工片电阻抽样技术,不仅浪费资源,而且无法对更为复杂敏感的双面太阳能制造工艺进行有效控制。

解决方案

Aurora旗下的Decima Gemini产品含有一对特制Decima CD测量头。凭借这一创新系统,硅片背表面场和发射机的片电阻可得到实时准确的测量。每套Decima Gemini系统均作为独立单元通过Aurora的'Veritas'工艺可视化软件进行管理和控制。这一独特的管理能力是通过Aurora的红外反射测量专利技术实现的,该技术在无需接触电池,也无需在沉积层之间架设电接头的前提下,对沉积半导体层进行测量。Decima可对双面太阳能电池的背表面场进行测量,却又不受硅片电阻变化的影响——这对此类产品应用来说是极为重要的一点。目前,市场上没有其他背表面场测量技术能够在不使用辅助的监控系统下实现相关测量,从而降低了产能,也妨碍了对整体生产工艺的监控。

产品应用

本品可用在双面太阳能电池内联测量工艺中

相关信息

Decima Gemini产品的设计可实现其在硅片传送装置的上部和下部各安装一套,从而实现在生产线全速运行条件下对硅片进行100%检测。Aurora旗下的Veritas工艺可视化软件可为工程师和操作人员提供对关键的背表面场和发射机形成工艺进行简单、单一的检测和控制。

上市时间

2017年1月

(责任编辑:Mark Osborne)

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